Over dit artikel

Byte-generator

voor het testen van DAC's en digitale besturingen

Dit ontwerp werd oorspronkelijk in elkaar geknutseld om bij het testen van een DAC-prototype de digitale codes met de hand in te kunnen geven. Later werd de schakeling aangepast voor het testen van een optische schakelaar vanuit een open-collector-uitgang. Het definitieve ontwerp combineert de voordelen van beide.In het schema van figuur 1 is te zien dat SW1 een 8-voudige DIP-switch is, gemonteerd in een 16-pens IC-voet (hierover later meer). De gemeenschappelijke kant van de schakelaar is aan massa gelegd en de andere kant wordt met behulp van een 4k7-weerstandsarray (R1) naar +5 V getrokken. Deze kant van de DIP-switches wordt naar buiten gevoerd via de 20-polige connector K1 en tevens naar de ingangen van IC1 geleid. Voor laatstgenoemde is een als buffer geschakelde 74LS245 toegepast.
Dit artikel kan alleen worden gedownload door geregistreerde gebruikers.
Login | Registreer nu!
Component list
Weerstanden:
R1 = 8 x 4k7 weerstand-array
R2 = 8 x 470 weerstand-array
IC’s:
IC1 = 74LS245 of 74HCT245
IC2 = ULN2801A
Diversen:
D1...D8 = high-efficiency-LED
K1 = 20-polige persconnector
K2 = 10-polige SIL-header
K3 = 11-polige SIL-header
K4 = 3-polige header met jumper
16-polig DIL-voetje met gedraaide contacten.
Reacties worden ingeladen...