Een patent voor het detecteren van vervalste chips

23 oktober 2017, 11:28
Een patent voor het detecteren van vervalste chips
Een patent voor het detecteren van vervalste chips
Battelle (Memorial Institute), een Amerikaans bedrijf voor ontwikkeling van toegepaste wetenschap en technologie heeft in de Verenigde Staten een patent verkregen voor een methode om vervalste elektronische componenten te onderscheiden van authentieke exemplaren. Het patent betreft het gebruik van intrinsieke deterministisch toevallige eigenschappen van een chip in combinatie met een classificatie-algoritme als een unieke ID, een soort van vingerafdruk die kan worden gecontroleerd aan de hand van een database.

Volgens US-patent no. 9.759.757 kunnen intrinsieke deterministisch toevallige eigenschappen worden verkregen uit een monster van authentieke elektronische componenten, die kan worden verwerkt en geclusterd om een classificator te maken die kan bepalen of een onbekende elektronische component authentiek of vervalst is. Voorbeelden van zulke eigenschappen zijn patronen van energieverbruik in het tijddomein en gegevens over de elektrische of magnetische velden in het tijd- of ruimtedomein. De classificatie gaat niet-destructief, snel en tegen lage kosten.

Deze authenticatietechnologie wordt al toegepast in Battelle’s commercieel verkrijgbare Barricade-systeem.
 
Reacties worden ingeladen...
gerelateerde items