Elektor Team

Elektrische verbindingen met nanobuisjes soms onbetrouwbaar

10 december 2013, 14:36
Elektrische verbindingen met nanobuisjes soms onbetrouwbaar
Elektrische verbindingen met nanobuisjes soms onbetrouwbaar

Onderzoekers van het National Institute of Standards and Technology (NIST) hebben ontdekt dat elektrische bedrading die is gemaakt van koolstof nanobuisjes soms minder betrouwbaar is dan koperen bedrading. Theoretisch kan een koolstof nanobuisje 1.000 keer meer stroom transporteren dan een metalen geleider met dezelfde afmetingen. Bij praktijktests van het NIST blijkt echter dat de nanoverbindingen bij een constante stroom langzaam in kwaliteit achteruitgaan en dat met name de metalen elektroden ervan defecten gaan vertonen.

 

Terwijl veel onderzoekers zich momenteel richten op de eigenschappen en fabricagemogelijkheden van koolstof nanobuisjes, houdt het NIST-onderzoek zich bezig met de gedragingen op lange termijn van deze materialen in echte elektronische circuits. Naast defecten in de metalen aansluitingen ontdekten de wetenschappers ook betrouwbaarheidsproblemen in netwerken van nanobuisjes, waarbij de elektronen van buisje naar buisje springen. Om de industriële ontwikkelingen op het gebied van nanobuisjes te ondersteunen ontwikkelt het NIST nu meet- en testtechnieken gericht op de interactie tussen nanobuisjes en hun metalen elektroden, en ook tussen nanobuisjes onderling. Een eerste conclusie is dat nanobuisjes misschien niet koper kunnen vervangen in logische en geheugen-chips, maar dat er wel een brede toepassing kan zijn in flexibele elektronica en fotovoltaïsche componenten.

 

De resultaten van het onderzoek werden op 17 augustus 2011 gepresenteerd tijdens de IEEE-conferentie Nano 2011.

 

Meer info:
www.nist.gov/mml/materials_reliability/cnt-081611.cfm

 

Foto: M. Strus/NIST

Reacties worden ingeladen...
gerelateerde items